Si vous êtes intéressé(e) par la microscopie électronique et ses diverses applications, sachez que le MEB de table Phenom part en tournée ! Inscrivez-vous dès maintenant à l’un des événements MEB Phenom. C’est gratuit et ça dure une journée près de chez vous.
Cet événement unique vous fera découvrir le monde fascinant de la microscopie électronique et le large éventail d’applications qu’elle offre.
Nos conférenciers experts feront des présentations intéressantes, exposeront les différentes techniques de MEB (microscopie électronique à balayage), l’analyse haute résolution et l’analyse des éléments par EDX.
L’un des temps forts de l’événement sera la démonstration en direct du microscope électronique à balayage de table Phenom. Ce microscope électronique à balayage avancé offre des possibilités sans précédent pour examiner les matériaux à l’échelle micro et nanométrique.
Que vous souhaitiez étudier les caractéristiques de surface des matériaux, analyser leur composition chimique ou identifier des éléments, le microscope électronique à balayage de table Phenom peut vous être utile.
Pourquoi participer à cet événement ?
- Nous vous montrerons les différentes possibilités d’analyse et de caractérisation des matériaux au cours de plusieurs présentations par des experts. De la préparation des échantillons à l’imagerie, en passant par l’analyse haute résolution et l’analyse des éléments par EDX.
- Analyse d’échantillons en direct et démonstrations sur le MEB de table Phenom XL, Phenom Axia et Phenom Pharos.
- Développez votre réseau, rencontrez les spécialistes des applications Phenom et d’autres spécialistes du MEB de table Phenom.
Agenda
13 Juin 2024 | Paris
9:30 – 16:00
Forwork | 4, Avenue Desfeux | 92100 Boulogne-Billancourt
17 Octobre 2024 | Lyon
9:30 – 16:00
France Scientifique | 94C Avenue du Progrès | 69680 Chassieu
Inscription : la participation à cet événement est gratuite. Si vous avez des exigences alimentaires, des allergies ou des intolérances dont nous pouvons tenir compte, veuillez nous en informer à temps.
Programme
9:30 Accueil des participants
10:00 – 10:20 Introduction du MEB Phenom et France Scientifique (Khalid Rbii)
10:20 – 10:45 Explication de la technologie MEB : imagerie, mesures et analyses (Pierre Forestier)
10:45 – 11:00 Pause café
11:00 – 11:25 Présentation de la gamme MEB conventionnels (Expert Thermo Fisher Scientific)
11:25 – 11:45
- Paris : Technique de préparation des échantillons : présentation du métalliseur LUXOR (Jan de Munck)
- Lyon : Présentation de la gamme complète d’instruments de préparation d’échantillons métallographiques (Expert Escil)
11:45 – 12:30 Démonstration en direct de l’interface utilisateur du MEB de table Phenom XL (paramètres d’imagerie, module EDX, modules logiciels) (Pierre Forestier)
12:30 – 13:30 Pause déjeuner
13:30 – 16:00 Analyses d’échantillons des participants avec le MEB de table Phenom XL
