France Scientifique distribue une large gamme de microscopes électroniques à balayage (MEB) de table. Robuste et simple d’utilisation, le MEB de table est l’outil idéal pour vos sujets de recherche et d’enseignement sur des structures micrométriques et submicrométriques. Cette gamme de MEB de table donne un accès direct à la haute résolution d’analyse ainsi qu’une qualité d’images haute définition nécessaires dans de nombreux domaines d’applications. Le MEB de table dispose d’un grossissement maximal de 1 000 000x ainsi qu’un module EDS pour l’analyse élémentaire.
Phenom Pure
Le Phenom Pure est un MEB de table d’entrée de gamme offrant une solution d’imagerie parfaite pour l’enseignement, le contrôle qualité ou la Recherche et Développement. La technologie innovante du MEB de table Phenom Pure en fait l’outil idéal pour la transition entre microscopie photonique et microscopie électronique.
Points clés :
- Grandissement max. : 65 000x
- Qualité d’images supérieure grâce à sa source CeB6
- Maintenance réduite, sans gestion de stock, ni intervention par l’utilisateur lui-même
- Facile d’utilisation grâce à une interface intuitive
- Insensible aux vibrations grâce à son architecture unique
- Acquisition d’une image MEB en moins de 30 secondes
- Vide dégradé disponible pour un travail facilité sur des échantillons non conducteurs
- Evolution possible du système vers l’imagerie SED et l’analyse EDS
Phenom Pro et Phenom ProX
Les MEB de table Phenom Pro et Phenom ProX sont des systèmes haute performances pour l’imagerie et l’analyse. L’évolution du MEB de table Phenom Pro vers le MEB de table Phenom ProX confère à l’utilisateur la possibilité d’analyser la composition élémentaire de son échantillon, en plus de sa structure. Grâce à leurs architectures uniques, les MEB de table Phenom Pro et Phenom ProX conservent l’ensemble des avantages développés sur la gamme MEB de table Phenom :
- Grandissement max. : 150 000x
- Temps de chargement d’un échantillon en mode MEB en moins de 30 secondes
- Source CeB6 très haute qualité, 10x plus brillante qu’une source Tungstène, qui accroît la résolution des images lors d’un travail à fort grandissement ou avec une faible tension d’accélération
- Plusieurs tensions d’accélérations disponibles
- Caméra optique couleur intégrée (NavCam) pour une navigation simplifiée sur l’échantillon
- Travail en vide partiel disponible pour faciliter le travail sur des échantillons non conducteurs et non métallisés
- Détecteur EDS en option (Phenom Pro) ou standard (Phenom ProX) pour l’analyse élémentaire
- Détecteur d’électrons secondaires (SED) disponible en option
- Faible encombrement
- Pas d’infrastructure spécifique nécessaire pour l’installation
Phenom XL
Le MEB de table Phenom XL repousse les limites en matière de technologie MEB compact. D’une part, le MEB de table Phenom XL utilise les technologies innovantes des autres systèmes Phenom. Et d’autre part, le Phenom XL est équipé de la plus grande chambre d’analyse en comparaison avec les
autres MEB de table du marché. Cette taille de chambre offre aux utilisateurs de nouvelles perspectives, notamment dans l’automatisation d’analyses de routines.
Points clés :
- Grande chambre d’analyse avec capacité de chargement d’échantillons de 10 x 10 cm
- Grandissement max. : 200 000 x
- Cycle de chargement/éjection d’échantillons le plus rapide au monde (image MEB en moins de 40 sec)
- Platine XY motorisée de série
- Nouvelle interface intuitive pour une nouvelle expérience d’utilisation pour l’ensemble des opérateurs
- Maintenance réduite, sans gestion de stock, ni intervention par l’utilisateur lui-même
- Caméra optique couleur intégrée (NavCam) pour une navigation simplifiée sur l’échantillon
- Travail en vide partiel disponible pour faciliter l’analyse des échantillons non conducteurs et non métallisés
- Détecteur EDS en option pour l’analyse élémentaire
- Détecteur d’électrons secondaires (SED) disponibles en option
- Faible encombrement
- Pas d’infrastructure spécifique nécessaire pour l’installation