La microscopie électronique à balayage à faible tension (<5 kV) permet une imagerie des surfaces très sensibles avec une réduction des dommages causés par le faisceau et une préparation minimale des échantillons. Les MEB de table modernes, couplés avec un détecteur STEM, élargissent les modes d’imagerie MEB traditionnels et offrent un moyen efficace de cribler les échantillons avant l’analyse MET haute résolution.
La microscopie électronique à transmission (MET) est largement utilisée pour étudier les matériaux et les structures biologiques avec une résolution atomique ou nanométrique. Cependant, la préparation des échantillons pour le MET est complexe et comporte généralement plusieurs étapes :
Ces processus nécessitent une infrastructure de laboratoire spécialisée, un temps de préparation important et des opérateurs expérimentés.
Pour de nombreuses questions de recherche, en particulier au début d’un projet ou pour la caractérisation rapide d’échantillons, une préparation aussi complexe n’est pas toujours nécessaire. Dans ces situations, la microscopie électronique à balayage à faible tension (MEB low-kV) offre une alternative efficace et pratique.
Les MEB low-kV fonctionnent généralement à des tensions d’accélération inférieures à 5 kV. À ces tensions réduites :
Cela permet une visualisation à contraste élevé des structures proches de la surface de l’échantillon.
La microscopie électronique à balayage low-kV offre plusieurs avantages importants :
Ces avantages rendent le MEB à low-kV particulièrement adapté pour:
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